Eumetrys kündigt exklusive weltweite Distribution des YPI – Clear Scanner

Laserbasiertes Partikelinspektionssystem für unstrukturierte Verbindungshalbleiter-Substrate zur Oberflächeninspektion von transparenten und undurchsichtigen Wafern bis zu 12 Zoll für erhöhte Ausbeute
CS ManTech, New Orleans, La., 19. Mai 2025 – Eumetrys, ein weltweit führender Integrator von umfassenden schlüsselfertigen Lösungen für Messtechnik und Inspektion zur Unterstützung von Halbleiterherstellern bei der Erreichung ihrer finanziellen und produktiven Ziele in der Waferfertigung, gab heute an Stand 707 bekannt, dass dem Unternehmen die exklusive weltweite Distribution des YPI – Clear Scanner, hergestellt vom japanischen Unternehmen YGK, zugesprochen wurde. Dieses laserbasierte Partikelinspektionssystem für unstrukturierte Verbindungshalbleiter-Substrate verbessert die Qualitätskontrolle von Halbleitern erheblich durch die Inspektion der Oberfläche verschiedenster transparenter und undurchsichtiger Wafer, darunter Siliziumkarbid (SiC), Galliumnitrid (GaN), Indiumphosphid (InP), Saphir, Galliumarsenid (GaAs), Silizium und Glas. Defekte Silizium-Wafer könnten die weltweite Halbleiterindustrie jährlich zwischen 10 und 20 Milliarden US-Dollar kosten, abhängig von den Ausbeuteraten, den Technologieknoten und der Effizienz der Fertigungsanlagen.
Wichtige Funktionen umfassen:
·Unübertroffene Substratflexibilität – Kompatibel mit transparenten, semitransparenten und undurchsichtigen Wafern von zwei bis zwölf Zoll, einschließlich dünner und gewölbter Wafer
·Fortschrittliche Oberflächeninspektionsfunktionen – Erkennt Partikel, Schleier, Kratzer und Flächendefekte mit hoher Präzision. Optimiert für transparente Substrate, um eine effektive Qualitätskontrolle bei modernsten Wafertypen zu gewährleisten
·Robuste und bewährte Technik für Langlebigkeit – Ausgestattet mit Standardkomponenten und einem soliden mechanischen Design, das niedrige Gesamtbetriebskosten und einen zuverlässigen Langzeitbetrieb sichert, gestützt auf über 30 Jahre Erfahrung
·Optimierte Kosteneffizienz und Betriebszeit – Entwickelt für hohen Durchsatz und branchenführende Betriebszeiten; die schlanke Konzeption und der geringe Wartungsaufwand helfen Fertigungen, ihre finanziellen Ziele zu erreichen und die Produktivität zu maximieren
“Wir sind stolz darauf, diesen preislich wettbewerbsfähigen Scanner in unser aktuelles Portfolio an schlüsselfertigen Lösungen für Halbleiterfertigungen aufzunehmen,” erklärt Yannick Bedin, CEO von Eumetrys. “Die Defektinspektion von Wafern ist ein entscheidender Schritt im Herstellungsprozess, um höchste Qualität und Ausbeute zu gewährleisten. Mit diesem zuverlässigen und vollständig anpassbaren Scanner, der speziell für den Markt der Verbindungshalbleiter entwickelt wurde, können Chiphersteller schnell auf die hohen Qualitätsanforderungen reagieren, die durch immer komplexere Herstellungsprozesse entstehen.”
https://www.i40today.com/eumetrys-announces-exclusive-global-distribution-of-the-ypi-clear-scanner/
https://compoundsemiconductor.net/article/121768/Eumetrys_to_distribute_YPI-Clear_Scanner/
Wichtige Funktionen umfassen:
·Unübertroffene Substratflexibilität – Kompatibel mit transparenten, semitransparenten und undurchsichtigen Wafern von zwei bis zwölf Zoll, einschließlich dünner und gewölbter Wafer
·Fortschrittliche Oberflächeninspektionsfunktionen – Erkennt Partikel, Schleier, Kratzer und Flächendefekte mit hoher Präzision. Optimiert für transparente Substrate, um eine effektive Qualitätskontrolle bei modernsten Wafertypen zu gewährleisten
·Robuste und bewährte Technik für Langlebigkeit – Ausgestattet mit Standardkomponenten und einem soliden mechanischen Design, das niedrige Gesamtbetriebskosten und einen zuverlässigen Langzeitbetrieb sichert, gestützt auf über 30 Jahre Erfahrung
·Optimierte Kosteneffizienz und Betriebszeit – Entwickelt für hohen Durchsatz und branchenführende Betriebszeiten; die schlanke Konzeption und der geringe Wartungsaufwand helfen Fertigungen, ihre finanziellen Ziele zu erreichen und die Produktivität zu maximieren
“Wir sind stolz darauf, diesen preislich wettbewerbsfähigen Scanner in unser aktuelles Portfolio an schlüsselfertigen Lösungen für Halbleiterfertigungen aufzunehmen,” erklärt Yannick Bedin, CEO von Eumetrys. “Die Defektinspektion von Wafern ist ein entscheidender Schritt im Herstellungsprozess, um höchste Qualität und Ausbeute zu gewährleisten. Mit diesem zuverlässigen und vollständig anpassbaren Scanner, der speziell für den Markt der Verbindungshalbleiter entwickelt wurde, können Chiphersteller schnell auf die hohen Qualitätsanforderungen reagieren, die durch immer komplexere Herstellungsprozesse entstehen.”
https://www.i40today.com/eumetrys-announces-exclusive-global-distribution-of-the-ypi-clear-scanner/
https://compoundsemiconductor.net/article/121768/Eumetrys_to_distribute_YPI-Clear_Scanner/